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FURUYA SEMI
检测与计量
面向半导体制造、设备维护及质量控制的检测与计量产品采购，涵盖光学检测、尺寸与膜厚测量、颗粒检测、检漏设备及相关配件。FURUYA SEMI 根据检测对象、测量范围、精度及接口要求开展寻源，并在下单前确认设备配置、技术规格与供货范围。
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Frequently Asked Questions
询购检测与计量设备需要提供哪些信息？
建议提供品牌、型号、数量、检测对象和测量目标，并说明量程、准确度、重复性及样品尺寸要求。光学检测可补充缺陷类型、最小目标尺寸和视场；膜厚测量需说明膜层材料、基底及厚度范围；检漏设备需说明检测气体、测试方式和目标泄漏指标。如需接入现有系统，请提供软件及通信接口要求。
分辨率越高，是否代表测量越准确？
不一定。分辨率表示仪器能够区分或显示的最小变化，准确度反映测量结果与参考值的接近程度，重复性则反映相同条件下多次测量的一致性。选型时应分别核对这些指标，并考虑测量原理、校准状态、样品特性和使用环境，不能将分辨率直接视为准确度。
设备是否包含软件、配件及校准文件？
具体供货范围需在报价中逐项确认，包括软件授权、相机、镜头、探头、样品夹具、连接线及校准文件等。二手或停产设备还需核实软件授权是否可转移、操作系统兼容性及后续支持条件。如需特定校准项目或可追溯的校准证书，请在询价时明确提出。
本分类图片为设备示意图，不代表特定品牌或实际库存。测量性能、软件授权、附件、校准状态、交期及保修以正式报价和合同为准。实际检测和测量结果受样品、方法、环境及操作条件影响，设备适用性和验收标准应在采购前确认。